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时间:2020-01-08来源:未知作者:admin点击:
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  展开全部由射线探测器得到的谱脉冲信号经放大器和多道分析器,进入微机系统。计算机通过软件对X射线能谱的常规数据进行处理,从而对样品的含量做定性和定量分析。谱数据处理包括:原始谱数据的光滑;自动寻峰及确定峰位的能量:待测元素的定性分析:峰边界道的确定;峰面积计算等内容。(1)原始谱数据的光滑预处理由于测量过程的统计性原理误差,使得X射线谱形式带有统计涨落的特点。所获取的X射线谱统计误差更为明显。在寻峰时,计数的统计涨落可能被误认为是一个谱峰,因此需要对谱先进行光滑预处理。本系统选用二阶多项式五点光滑法。具体计算公式为:式中,ni-2、ni-1、ni+1、ni+2为待光滑的第i道光滑前及光滑后的计数。在进行谱线光滑时,可以重复数次,以达到需要的光滑效果。(2)自动寻峰?从获取的X射线谱中找到峰位并换算成相应的能量是X射线谱定性分析的基础。本软件系统选用比较法作为计算机自动寻峰的方法。具体方法如下如果第i道计数满足以下不等式:则认为峰位在i-1,i,i+l道中,再从这三道中选出计数最大的道址即为峰位。k为找峰阈值,一般取值为1—1.5。

  能量刻度是确定本测量系统的道址m与X射线能量E之关系。即:经过自动寻峰得到特征X射线)式即可求解出该峰位对应的X射线能量。经与元素特征X射线能量库的逐一检索、查证,即可确定待测元素的种类。

  确计算特征峰的净峰面积是定量分析的依据。为此,必须根据实际情况确定特征峰的边界道址。由于采用的半导体探测器具有很好的能量分辨率,对于较高含量的元素,一般都能得到清晰的谱峰。因此,我们采用谱峰的全宽度做为确定本底计数的依据。

  本系统选用沃森法计算净峰面积。在峰边界L、H内取点F作为计算本底的宽度(F又称为面积因子),β1,β2为左、。